集成的測(cè)試結(jié)果轉(zhuǎn)換: DIN EN ISO 18265, DIN EN ISO 50150

布氏/努氏/洛氏/維氏硬度計(jì) CS/C EVO*的儀器特點(diǎn)

試臺(tái)高度調(diào)節(jié)

測(cè)試臺(tái)通過穩(wěn)固、超精密的滾珠軸承絲杠導(dǎo)軌調(diào)節(jié)。堅(jiān)固的免維修結(jié)構(gòu)，配有精致的黑色鍍鉻手輪控制。所有EVO系列的設(shè)備都提供直徑25mm的臺(tái)面底座。（可選?“的適配器）

旋轉(zhuǎn)型壓頭保護(hù)罩

對(duì)于無(wú)法使用壓頭保護(hù)罩夾持的樣品，無(wú)需耗費(fèi)時(shí)間來更換/拆卸保護(hù)罩。只需要手動(dòng)或者電動(dòng)控制來將保護(hù)罩升起或者放下。此外，這里還能十分簡(jiǎn)單的更換成客戶需要壓頭保護(hù)附件。

大尺寸載物平臺(tái)和V型槽載物臺(tái)

更大面積的載物平臺(tái)和V型槽載物臺(tái)可以對(duì)那些異常大或者球形以及表面不夠平坦的樣品來進(jìn)行硬度測(cè)試。

2位轉(zhuǎn)塔

所有的Qness 250/750/3000 EVO 設(shè)備都標(biāo)配有2位轉(zhuǎn)塔 – 簡(jiǎn)單并提供給測(cè)試頭和物鏡或XLED空間 – 是測(cè)試要求比較固定時(shí)的理想選擇

快速壓頭更換系統(tǒng)

歸功于壓頭快速釋放機(jī)制，可以實(shí)現(xiàn)極為便捷，無(wú)需工具的壓頭更換

CS/C EVO在極短的時(shí)間內(nèi)獲得高度精確的結(jié)果

優(yōu)異的成像質(zhì)量

光學(xué)系統(tǒng)已*重新開發(fā)。它在QATM的無(wú)塵車間內(nèi)建造并受益于公司全面的專業(yè)知識(shí)。所有新的產(chǎn)品系列都共享同一個(gè)通用顯微鏡系統(tǒng)，在可視范圍0.1mm至8mm之間，都能提供最大的清晰度以及對(duì)比度。新的QATM照明系統(tǒng)可以確保整個(gè)圖片的照明均勻，而且無(wú)論選用哪個(gè)的放大倍數(shù)都沒有暗邊。

縮短的周期時(shí)間

新的EVO產(chǎn)品系列擁有更優(yōu)的測(cè)試參數(shù)、更快的Windows 10 系統(tǒng)、更短的序列自動(dòng)對(duì)焦時(shí)間、更快的亮度調(diào)節(jié)與圖像分析、甚至更少的操作噪音——所有這些都有助于在日常硬度測(cè)試中更快地完成測(cè)試循環(huán)。

XLED布氏測(cè)量物鏡

XLED照明模塊*革新了布氏壓痕的分析。由于市售物鏡有限，軟材料的布氏壓痕尤其容易受到不精確測(cè)量結(jié)果的影響。相比之下，由于直接和廣泛的照明，XLED鏡頭可確保材料的精確和可重復(fù)測(cè)量，無(wú)論其類型與硬度如何。

CS/C EVO工業(yè)應(yīng)用的無(wú)限適用性

以太網(wǎng)工業(yè)攝像頭

具有以太網(wǎng)數(shù)據(jù)傳輸功能的高品質(zhì)CMOS 500萬(wàn)像素?cái)z像頭定義了當(dāng)前的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。與其他相機(jī)系統(tǒng)不同，在此可以實(shí)現(xiàn)更高的傳輸穩(wěn)定性。此外，電腦和硬度測(cè)試設(shè)備可以遠(yuǎn)距離進(jìn)行遠(yuǎn)程設(shè)置。在控制基礎(chǔ)設(shè)施安裝在外部開關(guān)柜里的制造環(huán)境中，這一切是理想的。

可自由調(diào)節(jié)的操作顯示器

12英寸超平電容式觸摸顯示屏可通過球形和插座式接頭平穩(wěn)地升降和傾斜，符合人體工程學(xué)的優(yōu)化使用。

優(yōu)化的測(cè)試頭設(shè)計(jì)

多種多樣的夾具和裝配工具選擇，能夠滿足各類樣品對(duì)輔助裝夾的需求。 可選的透明防撞裝置在預(yù)防設(shè)備上測(cè)試區(qū)域不受來自外部破壞的同時(shí)，還能確保用戶可以不受限制地去觀察測(cè)試空間。

用于硬度計(jì)的QPIX軟件高效操作的新層面

CS/C EVO技術(shù)參數(shù)